Micforce Международная Торговая Компания
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显微微尺度三点弯曲试验台微观裂纹扩展晶粒滑移分层现象四点弯曲
分类: 材料测试仪器  发布时间: 2012-07-16 15:15 

 显微微尺度三点弯曲试验台微观裂纹扩展晶粒滑移分层现象四点弯曲
显微微尺度三点弯曲试验台微观裂纹扩展晶粒滑移分层现象四点弯曲
金相显微镜、扫描电镜和原子力显微镜等兼容使用的高性能三点弯曲四点弯曲模式材料力学性能测试平台,可在高分辨率动态监测下开展对材料微观力学行为和变形损伤机制的相关研究。材料在外界载荷的作用下会发生变形、损伤,甚至失效和破坏的现象,在微观尺度下通过力学测试及成像观测手段获得获取表征材料力学性能的重要参数及材料的微变形过程就具有重要的研究意义。单纯的宏观力学测试在测试精度和测试尺度上不能满足上述要求,故必须对载荷作用下材料的微观力学行为和损伤机理进行深入研究,以确保其在使用中的可靠性和稳定性

 显微微尺度三点弯曲试验台微观裂纹扩展晶粒滑移分层现象四点弯曲200

 

kammrath weiss

金相显微镜、扫描电镜和原子力显微镜等兼容使用的高性能三点弯曲四点弯曲模式材料力学性能测试平台,可在高分辨率动态监测下开展对材料微观力学行为和变形损伤机制的相关研究。材料在外界载荷的作用下会发生变形、损伤,甚至失效和破坏的现象,在微观尺度下通过力学测试及成像观测手段获得获取表征材料力学性能的重要参数及材料的微变形过程就具有重要的研究意义。单纯的宏观力学测试在测试精度和测试尺度上不能满足上述要求,故必须对载荷作用下材料的微观力学行为和损伤机理进行深入研究,以确保其在使用中的可靠性和稳定性。

 

200N   3 和4点弯曲实验

“电子束”象征着显微镜的观察方向-无论光学显微镜,原子力显微镜,或超声波显微镜(SAM,和ELSAM)是用来。后者通常工作在很短的工作距离。因此,设计师确保有足够的从顶部和侧面观测样品的距离。

规格

这个装置是一个测试附件可以用同一个控制器所有运行的一个系统结构。这种多用途的测试设备,可以观看试样的顶部和侧面。在不改变应用的负载,改变观察方向时,或采取不同的显微镜,观察在测试设备的测试样品,。

应用程序

静态或动态观察表面的变化控制下的机械载荷,裂纹扩展,分层现象,形成滑移面等。

金属,陶瓷,玻璃,陶瓷材料或层,电镀涂料,焊接或焊接接头,矿产品,木材,有机材料。这种材料测试,装置很容易安装在扫描电镜下。三个小支架刚好安装在显微镜下。它主要设计用于Nanoscope III,但小的附件可以使用在单独的原子力显微镜。也有足够的空间供实验下扫描超声显微镜(SAM)。

性能

负载范围:从0…0.2N到0…200N

试样尺寸(最大尺寸):48×10×4毫米

变形速度范围:0.5到100微米/秒。

弯曲位移范围:0到5毫米的位移测量实验

电气连接:220或110伏交流电。

外形尺寸(宽/高/长度):40×40×180毫米

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